Iijima Y., Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kakimoto K., Yamada Y., Iwai H., Hirayama T., Sutoh Y., Niwa T., Miyata S., Sasaki H., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y., Ibi A., Sasaki Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, reel-to-reel process, CVD process, multistage process, substrate Hastelloy, grain alignment, microstructure, fabrication
Iijima Y., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Tokunaga Y., Imamura K., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp), Matsuda J., Koyanagi S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, trapped field, measurement technique, experimental results, magnetic properties
Iijima Y., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Tokunaga Y., Imamura K., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp), Tokutomi H., Shoyama T.
Iijima Y., Saitoh T., Watanabe T., Kakimoto K., Yamada Y., Sakai N., Chikumoto N., Tajima S., Kato J.Y.(yoshioka@istec.or.jp)
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y.(ysutoh@fujikura.co.jp), Kaneko N.
Amemiya N., Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Kakimoto K., Yamada Y., Nishioka T., Enomoto N., Zhenan J.
Jiang Z., Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Amemiya N.(ame@rain.dnj.ynu.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, substrate Hastelloy, ac losses, experimental results, fabrication
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Ajimura S., Sutoh Y.(ysutoh@fujikura.co.jp)
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y.(fukumoto@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Sawa H.
Iijima Y., Kakimoto K.(kakimoto@rd.fujikura.co.jp), Saitoh T.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Kuga T., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Yamauchi K.(yamauchi@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Kiuchi M.
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Kuga T., Ishimaru M., Matsushita T., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp)
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Saitoh T., Shiohara Y., Kiss T.(kiss@sc.kyushu-u.ac.jp), Inoue M., Kuga T., Ishimaru M., Egashira S., Irie S., Ohta T., Imamura K., Yasunaga M., Matsushita T., Kakimoto K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, current-voltage characteristics, n-value, fabrication, critical caracteristics, length
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Inoue M., Kuga T., Ishimaru M., Egashira S., Matsushita T., Kakimoto K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.